日本sumita住田光學(xué)多點同時計測分光器SUMITA
多點同時測量光譜儀
這是幾個單元的功能
多點同時測量光譜儀是可以同時檢測多個點的光譜儀。 SUMITA的原始光學(xué)設(shè)計可實現(xiàn)高分辨率和高靈敏度。
一個單元可以實現(xiàn)多個單元的功能。
光源裝置的波長檢查
檢查反射率和透射率
感度波長範(fàn)囲 | UV(250?400nm) VISタイプ(400?700nm) IRタイプ(700?1,200nm) |
---|---|
スリット | 50μm~(選択可能) |
光學(xué)分解能 | 1nm FWHM(50μm~スリット) |
波長再現(xiàn)性 | ±0.12nm(620nm) |
インターフェイス | USB 2.0 HiSpeed(480Mbps)対応 |
A/D変換 | 18bit |
畫素數(shù)(波長範(fàn)囲) | 1024pixel |
ピクセルサイズ | 14x14μm~ |
積算時間 | 0.1ミリ秒?6.5535秒 |
ダイナミックレンジ | 約2,500(積算時間1mSec時) |
外形寸法 | 140x80x55mm(入力端子部含まず) |
質(zhì)量 | 約0.5kg |
多點同時測量光譜儀
這是幾個單元的功能
多點同時測量光譜儀是可以同時檢測多個點的光譜儀。 SUMITA的原始光學(xué)設(shè)計可實現(xiàn)高分辨率和高靈敏度。
一個單元可以實現(xiàn)多個單元的功能。
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