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產品資料
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日本ae-mic超高電阻測試儀

產品名稱: 日本ae-mic超高電阻測試儀
產品型號: AE-1644E
產品特點: 日本ae-mic超高電阻測試儀
適用于 安裝10kΩ?1TΩ芯片,Melf,軸向型
超高電阻機器分選機,激光和切割機
修整機

日本ae-mic超高電阻測試儀 的詳細介紹

日本ae-mic超高電阻測試儀

 

  • 高速積分方法,噪聲誤差小(可以為每個范圍設置積分時間)
  • 參考電阻值4位數字設置允許百分測量(±50.00%)
  • 可能的修整模式
  • 比較器判斷結果可以是集電極開路輸出,LED顯示和蜂鳴器聲音
  • 可以聯系檢查
  • RS-232C接口標準設備(GP-IB /中央電子輸出是可選的)
  • 內置換檔螺線管電源(可選)[DC12V(2A)/ 24V(1A)/脈沖輸出(2A)]

測量范圍和基本精度(環境溫度23°C±5°C)

測量范圍測量范圍測量精度
測量電壓H測量電壓L
100kΩ的5.00kΩ至150.00kΩ15伏±0.03%±1位數[讀數的±0.1%±1位數]15伏±0.03%±1位數[讀數的±0.1%±1位數]
1兆歐50.0kΩ?1500.0kΩ
10兆歐0.500MΩ至15.000MΩ
100兆歐5.00MΩ至150.00MΩ100伏±0.05%±1位數[讀數的±0.2%±1位數]15伏±0.3%±1位數[讀數的±1.2%±1位數]
1GΩ50.0MkΩ至1500.0MΩ
10GΩ0.500GΩ至15.000GΩ100伏±0.2%±1位數[讀數的±0.5%±1位數]15伏±1.2%±2位數[讀數的±1.5%±1位數]
100GΩ5.00GΩ至150.00GΩ200伏±0.5%±2位數[讀數的±0.8%±2位數]15伏±1.5%±2位數[讀數的±2.0%±2位數]
1兆歐50.00GΩ?1500.0GΩ200伏±0.1%±4位數字[讀數的±1.5%±4位數字]無法選擇
測量值顯示范圍測量值的%:±50.00%
OHM測量:500?15000
測量方式恒壓測量[可以通過2端子測量進行接觸檢查]
測量時間(將被測物體連接到測量端子后,經過足夠的穩定時間后輸入啟動信號)
[外部啟動整合時間]
[FAST] 1?29毫秒(可以1毫秒為單位設置。
[SLOW] PLC50Hz:20.0毫秒×(1?9)周期(可以1周期為單位設置)大180毫秒。
PLC60Hz:16.7毫秒×(1?9)周期(可以1周期為單位設置)大150.3毫秒。
[自由運行]:大約3次/秒至20次/秒
比較器設定范圍%測量:HI和LO均為±50.00%OHM測量:HI和LO均為500至15000
控制信號測量開始信號:以“ L” [0V]→“ H” [DC12V]開始
保持信號:斷開,“ H” [DC12V]:自由運行,“ L” [0V]:保持
判斷結果信號:[LO / GO / HI],測量結束信號[EOC]集電極開路輸出大40V 100mA
周邊環境溫度:5℃?+ 40℃濕度:85%以下
需要電源AC85V-265V,50-60Hz,約20VA
外形尺寸333(W)x 99(H)x 300(D)mm(不包括橡膠腳等突起)
重量約2.5公斤
標準支持CE標記
選項? GP-IB這些選項中
只有一個可以內置。
?打印機輸出
?換檔/電磁電源
?打印機電纜

 日本ae-mic超高電阻測試儀

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